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當(dāng)前位置：上海恩迪檢測(cè)控制技術(shù)有限公司>>產(chǎn)品展示>>射線衍射分析儀
除了X射線衍射系統(tǒng)，我們也提供用于SEIFERTorGE-SEIFERT射線衍射系統(tǒng)的各種部件
·用于快速原位檢測(cè)化學(xué)反應(yīng)、物相變化和反應(yīng)層增長(zhǎng)等·在高溫或者特定條件下檢測(cè)物相變化過(guò)程德國(guó)SEIFERTAnalyticalX-ray可根據(jù)用戶的應(yīng)用和要求，...
·大檢測(cè)范圍，大角度范圍，高精度檢測(cè)·粉末、織構(gòu)、應(yīng)力和殘余奧氏體分析·可選工件轉(zhuǎn)換裝置和外部預(yù)定位系統(tǒng)·快速實(shí)時(shí)檢測(cè)，包括1D和2D檢測(cè)·可選掠入式射束、反射...
單色光掃描系統(tǒng)和固定式多色光勞厄分析系統(tǒng)，用于單晶材料、硅圓、晶錠、渦輪葉片和太陽(yáng)能光板等的定向分析和檢測(cè)，可集成到產(chǎn)線和質(zhì)量控制流程
根據(jù)檢測(cè)范圍不同
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